Rasterelektronenmikroskopie

Ausstattung:

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Fa. Zeiss - Sigma 300 VP

EDX- und EBSD-Detektor Fa. Oxford inkl. Analytikarbeitsplatz

In-Situ-Zug-Druckmodul - Kammrath&Weiss

Kühl- und Heizelement - Kammrath&Weiss

Redaktionell verantwortliche Person nach § 18 Abs. 2 MStV:
Dekan FB1, 14.09.2023